信息学院专题讲座—Virtual Probe: A Statistical Framework for Low-Cost Variability Characterization of Nanoscale Integrated Circuits

ON2014-09-16文章来源 8040comCATEGORY活动

标题:Virtual Probe: A Statistical Framework for Low-Cost Variability Characterization of Nanoscale Integrated Circuits

时间:2014年9月16日下午15:15 - 16:45

地点:岳阳路319号8号楼2楼220室

报告人:Li, Xin


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